光譜儀的檢定方法
發(fā)布日期：2014-07-08
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（1）檢定設備： 顯微密度計、投影儀、秒表、兆歐表、分析天平（分度值為0.1mg）和交直流電弧發(fā)生器。有關(guān)的一級標準物質(zhì)。
（2）標定項目： 外觀(guān)、儀器的密封性、時(shí)間控制、分辨率、全譜面質(zhì)量、譜線(xiàn)密度均勻性、最低檢出濃度和測量重復性等。
（3）分辨率：首先選定攝譜條件為：5A交流電弧，相對孔徑不小于1/30，縫寬5um，縫高10mm，中間光闌3mm，曝光時(shí)間5s，普通感光析。
將譜片置于20倍投影儀，用記錄式顯微密度計描繪譜線(xiàn)輪廓，檢查下表中的鐵譜對是否分開(kāi)。
（4）最低檢出濃度:采用直流電弧，電流5～8A，不預燃，陽(yáng)極激發(fā)或采用交流電弧，電流10～15A，儀器相對孔徑不小于1/30，縫寬8um，曝光時(shí)間30s，電極間距205mm,光譜純石墨電極形狀符合規定。將標準充滿(mǎn)電極孔，使用普通感光板進(jìn)行攝譜，將處理后的譜板置于投影儀上，觀(guān)察下表中的各元素呈現情況。
（5）測量精密度：7A交流電弧，儀器相對孔徑1/30，縫寬8um，高10mm，自電極激發(fā)，電極一端加工成錐形，頂端工作平面直徑2～2.5mm，間隙2mm預燃40s，曝光40s普通感光板，顯影4分鐘。溫度20±1℃.使用GBW02111～02115一級標準物質(zhì)，條件攝譜，再對BW02112中的鎳（0.0089%）測量12次，按下式求出測量精密度（鎳分析線(xiàn)對305.031nm/Cu306.900nm）以密度差為縱坐標，以含量為橫坐標，繪制標準曲線(xiàn)。
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